Ces travaux synthétisent des études basées sur l'exploitation d'un ensemble de moyens expérimentaux développés spécifiquement au sein de notre laboratoire, et de bancs de test du commerce, dans l'objectif de l'analyse de dispositifs actifs (transistors) dédiés à des applications hautes fréquences. Ces outils permettent des analyses orientées 'analyse de processus de défaillance', que nous illustrerons au travers de cas d'étude de filières à grande bande interdite GaN, ou encore des analyses spécifiques aux applications 'récepteurs faible bruit'. Les bancs de mesure relèvent de la métrologie du bruit basse fréquence, des mesures électriques impulsionnelles, mesures DLTS. Dans le second cas, les outils de métrologie du bruit haute fréquence permettent d'analyser les procédés technologiques en vue de l'optimisation des performances HF et en bruit des transistors pour la réalisation de circuits faible bruit: un ensemble de bancs unique en Europe nous permet de mesurer également le bruit de phase en oscillation et résiduel, le bruit HF sous signal de pompe.