Première démonstration expérimentale d'un interrupteur HEMT normally-off en GaN avec une région P-GaN enterrée - LAAS - Laboratoire d'Analyse et d'Architecture des Systèmes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Première démonstration expérimentale d'un interrupteur HEMT normally-off en GaN avec une région P-GaN enterrée

Dany Hachem

Résumé

Un nouveau concept d'interrupteur de puissance HEMT en GaN présentant la fonctionnalité « normally-off » est expérimentalement validé. L'introduction d'une couche P-GaN suffisamment dopée (autour de 2 x 1018 cm-3) au sein de la couche buffer GaN NID, en-dessous de l'électrode de grille et sous l'interface AlGaN / GaN, permet d'obtenir une tension de seuil positive de 0,8 V, soit un décalage significatif supérieur à 6 V par rapport à celle d'un HEMT conventionnel « normally-on ».
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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-02981903 , version 2 (24-07-2018)
hal-02981903 , version 1 (28-10-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02981903 , version 1

Citer

Frédéric Morancho, Audrey Chapelle, Yvon Cordier, Leïla Benmosfeta, David Trémouilles, et al.. Première démonstration expérimentale d'un interrupteur HEMT normally-off en GaN avec une région P-GaN enterrée. Symposium de Génie Electrique, Université de Lorraine [UL], Jul 2018, Nancy, France. ⟨hal-02981903v1⟩
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