La mesure in situ et en temps réel des changements de courbure des surfaces optiquement réfléchissantes est un élément clé pour mieux contrôler les procédés de fabrication bottom-up dans l'industrie des semi-conducteurs, mais aussi pour suivre ou ajuster les déformations des miroirs pendant leur fabrication et leur utilisation pour les industries spatiales ou optiques. Malgré les progrès réalisés au cours des deux dernières décennies grâce aux techniques basées sur la déflectométrie laser, la communauté manque d'un instrument, facile à utiliser, robuste aux environnements difficiles et facilement compatible avec une large gamme de procédés de fabrication. Nous décrivons ici une nouvelle méthode, appelée magnification inferred curvature (MIC), basée sur la détermination du facteur d'agrandissement de la taille de l'image virtuelle d'un objet connu créée par une surface courbe réfléchissante (le substrat) agissant comme un miroir sphérique. Le formalisme optique, la conception et la preuve de concept sont présentés. La précision, l'exactitude et les avantages de la méthode MIC sont illustrés à partir d'exemples choisis tirés du suivi de la croissance en temps réel et comparés aux instruments de pointe basés sur la déflectométrie laser.